FIBを用いた電子顕微鏡による先端材料・デバイスの微細構造解析業務((株)東レリサーチセンター出向) 東レ株式会社
| 職種 | FIBを用いた電子顕微鏡による先端材料・デバイスの微細構造解析業務((株)東レリサーチセンター出向) |
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| 社名 | 東レ株式会社 |
| 業務内容 |
FIB(集束イオンビーム）-SEM装置を用いた電子デバイスの構造解析をご担当いただきます。主要な業務は以下の通りです。 ・多様な電子顕微鏡観察に適した、様々な方法での微小領域加工。 ・分析目的のヒヤリングや測定結果の説明を通した顧客サポート。 ・最新技術である多イオン種プラズマFIBを用いた新規応用分野の探索と社外へのPR。 【配属】 (株)東レリサーチセンター・形態科学研究部第1研究室 ※東レ(株)籍、東レリサーチセンター出向 【東レリサーチセンター・形態科学研究部第1研究室について】 東レリサーチセンター・形態科学研究部第1研究室のTEM技術は高度な前処理から多様な観察・分析を駆使して、産業界のみならず学会でも高い認知度を得ています。当社では最先端のTEM設備と経験豊富な技術スタッフで高難度の受託分析評価を実施しつつ、大学や国立研究所との共同研究なども積極的に実施し、新しい知見を学会発表したり、評価方法を開発する取り組みも実施しています。 |
| 求める経験 | 【必須】 ・電子顕微鏡を用いた材料分析の経験があること ・SEM・TEMの操作、およびそこから得られる情報の解析について高い専門性をお持ちの方 【歓迎】 ・ＦＩＢ装置の使用経験があること ・分光手法を用いた電子状態などの構造解析の実施経験 |
| 勤務地 |
滋賀県
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| 年収 |
450万円～700万円 原則として当社給与規定により、その方の能力に合わせて算定いたします。 昇給：年1回(4月) 賞与：年2回(6月、12月) |
| 勤務時間 | 09:00～17:30 |
| 休日・休暇 | 完全週休2日制（土日）及び祝日、年末年始、年次有給休暇(初年度16日、最高20日間)、慶弔休暇等 |
| 福利厚生 |
健康保険 厚生年金 雇用保険 労災保険通勤手当 住宅手当 家族手当 地域手当 財産形成:財形貯蓄制度、住宅融資制度、従業員持株会 確定拠出年金 各種施設:社宅・寮あり 保養所あり(社有保養所全国3ヶ所、契約保養所多数) |
| 雇用形態 | 正社員 |
| 選考プロセス | 面接3回、書類選考、面接・適性試験 |
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